Modul 10252 | |
Prüfungsnummern | 6230 (Labor: 6231) |
Fertigung in der Elektronik, Statistik für Produktion und Entwicklung | |
Studiengang |
Bachelor Elektro- und Informationstechnik (B.Sc.) Pflichtmodul Bachelor Management und Technik (B.Sc.) Wahlpflichtmodul |
Modulbezeichnung | Fertigung in der Elektronik, Statistik für Produktion und Entwicklung |
Englische Modulbezeichnung | Production in Electronics, Statistics for Production and Development |
Kurztitel | B-E/I-MuE5 |
Semesterinfo | Bachelorstudiengang E/I, Pflichtmodul, Vertiefungsrichtung MuE, PO 2012, 2017 Bachelorstudiengang E/I, Wahlpflichtmodul, Vertiefungsrichtung AuI, PO 2012, 2017 Bachelorstudiengang MuT, Schwerpunkt Automation und Fertigung, PO 2016, 2019 Bachelorstudiengang MuT, Wahlpflichtmodul, PO 2016, 2019 Bachelorstudiengang UGS, Wahlpflichtmodul, PO 2018 |
Modulverantwortlicher | Prof. Dr.-Ing. Marion Hermersdorf |
Dozent |
Prof. Dr.-Ing. Marion Hermersdorf |
Sprache | Deutsch |
Lehrform | 4 SWS Vorlesung 4 SWS Laborpraktikum |
SWS | 8 |
Arbeitsaufwand | 300 |
Präsenzstudium | 120 |
Eigenstudium | 180 |
Kreditpunkte | 10 |
Empfohlene Vorkenntnisse | Erfolgreicher Abschluss der Lehrveranstaltungen der erste drei Semester |
Voraussetzungen | |
Lernziele / Kompetenzen | Wissen
Fertigkeiten Die Studierenden sind in der Lage wissenschaftliche Methoden bei der selbständigen Herstellung primärer Bauelemente anzuwenden. Komplexe Arbeitsabläufe werden in verschiedenen Gruppen arbeitsteilig erledigt. Die Studierenden können Fehler am Bauelement nach den unterschiedlichen Ursachen differenzieren. Personale Kompetenz Die Studierenden können Erlerntes mit anderen Studierenden und Arbeitsgruppen kommunizieren und gemeinsam Fertigungsprozesse optimieren. |
Inhalt | Vorlesung
Praktikum Dickschicht-Technik (z.B. Siebstrukturherstellung in direktem und indirektem Verfahren. Belichtungs- und Entwicklungsversuche von Kapillarfilmen und Fotopolymeremulsionen. Anwendung von Dickschichtpasten und Fotolacken zur Erzeugung von Mikro-Strukturen. Verbesserung der Druckstruktur durch Optimierung der Maschineneinstellung) Dünnschicht-Technik (z.B. Sputtern von Edel-Metallschichten auf SiO2-Substraten. Berücksichtigung der Fehlerquellen, Belastungsfaktoren und Querabhängigkeiten. Haftungs- und Transmissionsmessung.) Test-und Mess-Verfahren (z.B. Transmission, Meshzahl-Ermittlung, Siebbespannung, Belichtungskalkulator, Dickenmessung, Haftungstests, Härtetests. Vergleich von gemessenen und gerechneten Schichtdicken.) Verwendung von mathematischen Methoden der Produktion und Entwicklung zur Bestimmung von Prozessparametern. |
Studienleistung | |
Prüfungsleistung |
Klausur Weitere Modulleistung: Anerkanntes Laborpraktikum |
Medienformen | Tafel, Folien, Rechnerpräsentation, Skript, Sammlung von Übungsaufgaben, Produktmuster |
Literatur | Hanke: "Baugruppentechnologie der Elektronik" Veyhl: "Statistik als Werkzeug für Produktion und Entwicklung", Studienskript FHW 2012 |